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          IC芯片檢測

          集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件,采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上,然后封裝在一個管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。



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          通用型穿透原理將IC芯片內部結構實時以2D圖像呈現出來,還可以以不同的視角檢測IC芯片內部。

          將IC芯片內部結構"透明化"放大,缺陷更易尋找!

          應用范圍:適用于對穿透能力要求不高的產品檢測,例如PCB電路板、IC芯片、IGBT半導體、LED燈等小型電子產品

          功能介紹:一鍵CNC編程自動檢測、BGA氣泡測量面積與空洞率、金線長度寬度測量、可視化導航界面(精準定位檢測位置)、X-Ray平板60°旋轉、支持幾何放大200x和系統放大2000x。


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